低铁损硅钢测量的核心是消除干扰因素、保证测试条件与实际工况一致，从而获得精准的铁损数据，具体注意事项如下：

1、试样制备的关键要求

       严格按标准裁剪尺寸，保证试样边缘平整无毛刺，避免剪切应力导致磁畴畸变，进而使铁损测量值偏高；裁剪后若出现明显应力，可进行低温退火处理消除应力。

       试样表面需清洁无油污、氧化层或划痕，油污会增加叠片间隙，氧化层和划痕会破坏硅钢的绝缘涂层，导致涡流损耗增大。

       叠装试样时控制对齐精度和压紧力，减小气隙；气隙过大会增大励磁电流，造成铁损测量值虚高，同时叠片层数需符合设备要求，保证磁通均匀分布。

2、测试条件的精准控制

       频率匹配：必须按硅钢的实际应用频率测量，比如工频电机用硅钢测 50Hz/60Hz，高频电机用硅钢测对应高频（如 400Hz、1kHz），偏离工况频率的测量数据无实用价值。

       磁通密度校准：低铁损硅钢的铁损与磁通密度强相关，需精准设定测试磁通密度（如电机常用 1.5–1.7T，变压器常用 1.7–1.9T），避免因磁通密度波动导致铁损数据偏差。

       环境温度稳定：铁损测量的基准温度通常为 25℃，温度变化会影响硅钢的电阻率和磁特性，测量时需保持环境温度稳定，或对测试结果进行温度修正。

3、设备操作与误差规避

       测量前需校准设备，包括爱泼斯坦方圈 / 单片磁导计的绕组参数、功率表精度，避免设备自身误差影响结果。

       测量时需扣除绕组铜损，铁损是铁芯的损耗，若直接测量总损耗会包含励磁绕组的铜损，导致数值偏大。

       避免电磁干扰，测试环境需远离强磁场、大功率电气设备，防止外部磁场干扰铁芯的磁通状态。

4、数据记录与重复性验证

       记录完整的测试条件，包括频率、磁通密度、温度、试样规格等，确保数据可追溯。

       同一批次试样需多次测量取平均值，验证数据的重复性；若多次测量结果偏差过大，需排查试样制备或设备操作问题。