硅钢片损耗测量的核心方法有 3 类，均基于交流磁化原理，通过检测励磁与感应信号计算铁损，适配不同测试场景和需求。

一、Epstein 方圈法（国标主流方法）

       原理：将硅钢片裁成 4 组标准条料（如 300mm×30mm），叠装成闭合方圈，绕制励磁绕组和测量绕组，通入交流电流产生交变磁场，通过功率分析仪计算损耗。

       操作要点：试样需消除机械应力，叠装时保证磁路闭合，绕组匝数均匀（通常励磁绕组 N1、测量绕组 N2 按标准配比）。

       适用场景：成品硅钢片的常规质量检测，符合 GB/T 13789、IEC 60404-2 等标准，数据具有可比性。

二、单片磁导计法（高精度研究型方法）

       原理：用磁导计的两极夹持单张硅钢片试样，形成闭合磁路，通过精密磁场测量装置控制磁通密度，同步检测输入功率。

       操作要点：试样尺寸小（通常 100mm×20mm），需精准控制夹持压力，避免应力影响磁性能。

       适用场景：材料研发、单片损耗特性研究，或小尺寸、异形硅钢片的损耗测试，测量精度高于方圈法。

三、空载损耗法（贴近实际应用法）

       原理：将硅钢片叠装成实际应用的铁芯结构（如变压器铁芯、电机定子冲片叠铁），在铁芯一侧绕制励磁绕组，通入额定频率的交流电，测量铁芯空载时的输入功率（即铁损）。

       操作要点：铁芯叠装需紧密，避免气隙，励磁电压需稳定在额定值，排除绕组铜损的影响。

       适用场景：验证硅钢片在实际产品中的损耗表现，适用于变压器、电机等设备的铁芯损耗评估。

四、其他辅助方法

       磁滞回线仪法：通过绘制磁滞回线，计算回线面积得到磁滞损耗，常与涡流损耗分离测量，适用于损耗机理分析。

       高频损耗测量法：针对高频电机、逆变器用硅钢片，采用高频信号励磁（1kHz-10kHz），搭配专用高频功率分析仪，测量高频下的总损耗。