一、温度影响精度的核心规律

       温度升高会改变磁芯磁特性，多数磁芯（如铁氧体）在居里温度以下，损耗随温度先降后升，低温区（<25℃）损耗偏高，常温区（25℃~80℃）损耗相对稳定，高温区（>100℃）损耗快速增大。

       频率越高，温度对损耗的影响越明显，例如 1MHz 下铁氧体磁芯，温度从 25℃升至 80℃，损耗可能下降 10%~15%，继续升温至 120℃，损耗可能上升 20%~30%。

       磁通密度越大，温度对损耗的敏感度越高，高磁通密度下（如 Bm>0.3T），温度波动 5℃可能导致损耗误差达 ±8%~12%。

二、不同材料的温度影响差异

       铁氧体磁芯：温度影响最显著，常温（25℃~60℃）是损耗稳定区，偏离此范围误差快速增大，适合在 25℃±2℃下测试。

       硅钢片磁芯：温度影响相对平缓，温度每波动 10℃，损耗误差约 ±3%~5%，适合在 20℃~40℃下测试。

       非晶 / 纳米晶磁芯：损耗随温度变化较线性，温度每波动 10℃，误差约 ±4%~8%，需严格控制测试温度。