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 MATS-2010SD软磁直流测量装置
MATS-2010SD软磁直流测量装置
  软磁直流测量装置又可称为软磁直流B-H磁滞回线仪,软磁B-H测试仪。
  自动测量软磁材料在静态(直流)条件下的基本磁化曲线和磁滞回线,准确测量起始磁导率μi、最大磁导率μm、饱和磁感应强度Bs、剩磁Br、矫顽力Hc和磁滞损耗Pu等静态磁特性参数。
  MATS-2010SD软磁直流测量装置符合国标GB/T 13012-2008、GJB 937-90,行业标准SJ/T 10281-91和国际标准IEC 60404-4、IEC 404-7的规定。
  依照冲击法的测量原理,采用计算机控制技术和A/D、D/A相结合,以电子积分器取代传统的冲击检流计,实现微机控制下的模拟冲击法测量,不仅可以完全消除经典冲击法中因使用冲击检流计所带来的非瞬时性误差,而且测量精度高、速度快、重复性好、可消除各种人为因数的影响,为研究材料磁化过程机理提供可靠的依据。

  主要特点 软件功能 软件界面 原理框图 技术参数 参考配置 CE认证  
装置技术指标 
    依据国标GB/T 13012-2008,采用冲击法测量坡莫合金环形试样,技术指标如下:
  被测参数 Bs(%) Br(%) Hc(%) Pu(%) μ m(%) μ i (%)
  不确定度(k=2) 1 1 1.5 1 2 5
  重复性(恒温) ± 0.5 ± 0.5 ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 3

硬件技术参数
 MATS-2010SD 软磁直流测量装置    PC6616 A/D D/A卡
     输出电压:0~±50V
     输出电流:1mA~10A,十三档自动量程
     电流细度:< 0.1%×当前量程
     电流稳定度:优于0.05%
     磁通计量程:0.25、0.5、1、2、5、10、
                    20 mWb 共七档
     磁通计灵敏度: 0.05μWb(冲击法)
                       0.1μWb(磁场扫描法)
     A/D转换:16Bit,8通道差分输入
     转换时间:< 10μs
     转换精度:0.01%(满量程)
     D/A转换:16Bit,2通道独立输出
     转换精度:0.01%(满量程)

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