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MATS-2010SD軟磁直流測量裝置 |
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軟磁直流測量裝置又可稱為軟磁直流B-H磁滯回線儀，軟磁B-H測試儀。
自動測量軟磁材料在靜態（直流）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準確測量起始磁導率μi、最大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態磁特性參數。
MATS-2010SD軟磁直流測量裝置符合國標GB/T 13012-2008、GJB 937-90，行業標準SJ/T 10281-91和國際標準IEC 60404-4、IEC 404-7的規定。
依照衝擊法的測量原理，採用電腦控制技術和A/D、D/A相結合，以電子積分器取代傳統的衝擊檢流計，實現微機控制下的模擬衝擊法測量，不僅可以消除經典衝擊法中因使用衝擊檢流計所帶來的非暫態性誤差，而且測量精度高、速度快、重複性好、可消除各種人為因數的影響，為研究材料磁化過程機理提供可靠的依據。
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裝置技術指標
依據國標GB/T 13012-2008，採用衝擊法測量坡莫合金環形試樣，技術指標如下：
| 被測參數 |
Bs(%) |
Br(%) |
Hc(%) |
Pu(%) |
μ m(%) |
μ i (%) |
| 不確定度(k=2) |
1 |
1 |
1.5 |
1 |
2 |
5 |
| 重複性(恒溫) |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 1 |
± 3 |
硬體技術參數
| MATS-2010SD 軟磁直流測量裝置 |
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PC6023 A/D D/A卡 |
輸出電壓：0∼±35V
輸出電流：1mA∼10A，十三檔自動量程
電流細度：< 0.1%×當前量程
電流穩定度：優於0.05%
磁通計量程：0.25、0.5、1、2、5、10、
20 mWb 共七檔
磁通計靈敏度： 0.05μWb(衝擊法)
0.1μWb(磁場掃描法)
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A/D轉換：12Bit，4通道
轉換時間：< 10μs
轉換精度： 0.1%（滿量程）
D/A轉換：12Bit，2通道獨立輸出
轉換精度：0.1%（滿量程） |
| PC6016 A/D D/A卡 |
A/D轉換：16Bit，8通道差分輸入
轉換時間：< 10μs
轉換精度：0.01%（滿量程）
D/A轉換：16Bit，2通道獨立輸出
轉換精度：0.01%（滿量程） | |
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