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 MATS-2010SD軟磁直流測量裝置
MATS-2010SD軟磁直流測量裝置
  軟磁直流測量裝置又可稱為軟磁直流B-H磁滯回線儀,軟磁B-H測試儀。
  自動測量軟磁材料在靜態(直流)條件下的基本磁化曲線和磁滯回線,準確測量起始磁導率μi、最大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態磁特性參數。
  MATS-2010SD軟磁直流測量裝置符合國標GB/T 13012-2008、GJB 937-90,行業標準SJ/T 10281-91和國際標準IEC 60404-4、IEC 404-7的規定。
  依照衝擊法的測量原理,採用電腦控制技術和A/D、D/A相結合,以電子積分器取代傳統的衝擊檢流計,實現微機控制下的模擬衝擊法測量,不僅可以完全消除經典衝擊法中因使用衝擊檢流計所帶來的非暫態性誤差,而且測量精度高、速度快、重複性好、可消除各種人為因數的影響,為研究材料磁化過程機理提供可靠的依據。

主要特點 軟體功能 軟體介面 原理框圖 技術參數 參考配置 CE認證  

  採用Windows測量軟體,使用方便。軟體功能強大,對測試人員的技術要求低。
  測試樣品的種類:軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶、納米晶、鐵粉芯、電工純鐵和矽鋼片。
  測試樣品的形狀:環形、E形、U形等閉路樣品,條(棒)形、片狀等開路樣品。
  閉路樣品直接繞線測量:樣品、磁化線圈(N1)、測量線圈(N2)共同組成一個空載變壓器。
  通過測量磁化電流來測量磁場強度,磁場鎖定精度高達0.1%。
  採用電子積分器來測量磁感應強度,積分器的零點漂移通過軟體自動修正。
  測量開路樣品需選配螺線管或磁導計,開路樣品的內場可通過內置的磁位計(選配件)來測量。
  測試方法:模擬衝擊法和磁場掃描法。
  採用模擬衝擊法測量基本磁化曲線,可準確測量磁化曲線上的磁特性參數:μi、μm、Bs、任意一點的μ值。
  採用模擬衝擊法和磁場掃描法測量飽和磁滯回線,可準確測量磁滯回線上的磁特性參數:Bs、Br、Hc、Pu。採用:模擬衝擊法測量磁滯回線Hc、Pu的準確度可以进一步提高。
  測試μi前,有自動退磁功能,採用10Hz交流飽和退磁。
  採用模擬衝擊法測量時,可選擇測試單個參數,以節省時間,每個測試點的時間可設定為0.1秒∼0.9秒。
  採用B速反饋,能根據樣品磁特性曲線的形狀自動調整測試點的疏密,也可按用戶預先定義的測試點更精確地測量曲線。

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