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 MATS-2010M矽鋼測量裝置
MATS-2010M矽鋼測量裝置
  矽鋼測量裝置又可稱為矽鋼B-H測試儀、矽鋼鐵損測量儀,是一種國際通用的矽鋼標準測量裝置。
  MATS-2010M矽鋼測量裝置主要應用于測量電工鋼片(帶)在400Hz以下的交流磁性參數:比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss,以及交流磁化曲線和損耗曲線。
  MATS-2010M矽鋼測量裝置還可滿ì矽鋼材料、坡莫合金、非晶和納米晶材料在50Hz ~ 1kHz頻率範圍內的特殊測試要求,如超大尺寸鐵心測量、鐵心生產線線上測量等場合。
  MATS-2010M矽鋼測量裝置符合國標 GB/T 3655-2000、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008 和國際標準 IEC 404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6,其主要技術指標達到或優於國標中的規定。

主要特點 軟體功能 軟體介面 原理框圖 技術參數 參考配置 CE認證  

裝置技術指標 
  依據國標GB/T 3655-2000,在50Hz、60Hz頻率下,使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的矽鋼標樣,技術指標如下:
  被測參數 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
  不確定度(k=2) 1 1 2 1 2
  重複性(皕) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
  備註 鎖B測試
無取向片Bm≤1.5T
或取向片Bm≤1.7T
鎖H測試
無取向片Hm≥1000A/m
或取向片Hm≥500A/m

  依據國標GB/T 13789-2008,在50Hz、60Hz頻率下,使用SST-500單片磁導計測量500×500的矽鋼標樣,技術指標如下:
  被測參數 Ps(%) Ss(%) Hrms(%) Bm(%) Hm(%)
  不確定度(k=2) 1.5 1.5 2 1 3
  重複性(皕) ± 0.5 ± 0.5 ± 1 ± 0.5 ± 1
  備註 鎖B測試
無取向片Bm=0.8∼1.5T
或取向片Bm=1.0∼1.8T
鎖H測試
無取向片Hm≤10000A/m
或取向片Hm≤1000A/m

  依據國標GB/T 3658-2008,在50Hz∼1kHz頻率下,測量坡莫合金環形試樣,技術指標如下:
  被測參數 Ps(%) μa(%) δ(%) Bm(%) Hm(%)
  不確定度(k=2) 3 2 - 1 1
  重複性(皕) ± 1.5 ± 1 ± 1 ± 0.5 ± 0.5
  備註     1.試樣應為薄壁環,外徑/內徑≤1.25。
    2.測試前應先退磁,退磁場頻率≤測試頻率。
    3.不確定度為“-”,表示國標中不要求。

硬體技術參數
 MATS-2010M/k50 矽鋼測量裝置    MATS-2010M/k75 矽鋼測量裝置
    輸出功率:500VA正弦波
    頻率範圍:45Hz∼1000Hz
    頻率細度:1Hz
    頻率誤差:< 0.05%
    輸出電壓:0∼10V∼50V∼150V∼300V,
              四檔自動量程
    電壓細度:程式控制1mV,
              面板 < 0.1%×當前量程
    電壓失真度:優於0.5%
    電壓穩定度:優於0.02%
    電流採樣:5mA∼20A,十二檔自動量程
    電壓採樣:100mV∼400V,十二檔自動量程
    輸出功率:750VA正弦波
    頻率範圍:45Hz∼1000Hz
    頻率細度:1Hz
    頻率誤差:< 0.05%
    輸出電壓:0∼10V∼50V∼80V∼100V,
              四檔自動量程
    電壓細度:程式控制1mV,
              面板 < 0.1%×當前量程
    電壓失真度:優於0.5%
    電壓穩定度:優於0.02%
    電流採樣:5mA∼20A,十二檔自動量程
    電壓採樣:100mV∼400V,十二檔自動量程
 MATS-2010M/10k 矽鋼測量裝置  PC6621 A/D卡
    輸出功率:500VA正弦波
    頻率範圍:400Hz∼10kHz
    頻率細度:1Hz
    頻率誤差:< 0.05%
    輸出電壓:0∼10V∼50V∼150V∼300V,
              四檔自動量程
    電壓細度:程式控制1mV,
              面板 < 0.1%×當前量程
    電壓失真度:優於0.5%
    電壓穩定度:優於0.02%
    電流採樣:6.33mA∼20A,八檔自動量程
    電壓採樣:1V∼316V,六檔自動量程
    轉換時間:≤ 2.5μs(每通道)
    解析度和線性度:12Bit±1LSB
    電壓量程:±5V(滿量程)
    採樣時標:5μs∼10ms硬體時標
    記憶體容量:4kByte
 PC6111 A/D卡
    轉換時間:≤ 2.5μs(每通道)
    解析度和線性度:12Bit±1LSB
    電壓量程:±5V∼±10V(滿量程)
    採樣時標:6μs∼10ms硬體時標
    記憶體容量:4kByte
 PC6684 A/D卡  PC6112 A/D卡
    採樣速率:40MHz×2通道
    解析度和線性度:12Bit±1/2LSB
    電壓量程:±1V(滿量程)
    採樣時標:25ns∼800ns硬體時標
    記憶體容量:512kByte×2
    轉換時間:≤ 2.5μs(每通道)
    解析度和線性度:16Bit±1LSB
    電壓量程:±5V∼±10V(滿量程)
    採樣時標:6μs∼10ms硬體時標
    記憶體容量:4kByte

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    SMTest.ini軟磁測量軟體配置檔
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