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MATS-3000S軟磁材料量測裝置 |
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MATS-3000S軟磁材料量測裝置是一款多功能軟磁材料自動測量儀器。該裝置主要用於量測軟磁鐵氧、坡莫合金、非晶/納米晶和矽鋼等軟磁材料在DC°1kHz條件下的磁性參數。
MATS-3000S軟磁材料量測裝置可量測軟磁材料在靜態（直流）條件下的基本磁化曲線和磁滯回線，準確量測起始磁導率μi、最大磁導率μm、飽和磁感應強度Bs、剩磁Br、矯頑力Hc和磁滯損耗Pu等靜態磁特性參數。同時可量測軟磁材料在0.01Hz°1kHz條件下的動態磁滯回線，準確量測振幅磁導率μa、損耗àδ、比總損耗Ps、剩磁Br、矯頑力Hc等動態磁特性參數。 |
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裝置技術指標
依據國標GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的矽鋼標樣，技術指標如下：
| 被測參數 |
Ps(%) |
Ss(%) |
Hrms(%) |
Bm(%) |
Hm(%) |
| 不確定度(k=2) |
1 |
1 |
2 |
1 |
2 |
| 重複性(恒溫) |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 1 |
± 0.5 |
± 1 |
| 備註 |
鎖B測試
無取向片Bm≤1.5T
或取向片Bm≤1.7T |
鎖H測試
無取向片Hm≥1000A/m
或取向片Hm≥500A/m |
依據國標GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用SST-500單片磁導計測量500×500的矽鋼標樣，技術指標如下：
| 被測參數 |
Ps(%) |
Ss(%) |
Hrms(%) |
Bm(%) |
Hm(%) |
| 不確定度(k=2) |
1.5 |
1.5 |
2 |
1 |
3 |
| 重複性(恒溫) |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 1 |
± 0.5 |
± 1 |
| 備註 |
鎖B測試
無取向片Bm=0.8∼1.5T
或取向片Bm=1.0∼1.8T |
鎖H測試
無取向片Hm≤10000A/m
或取向片Hm≤1000A/m |
依據國標GB/T 3658-2008，在50Hz∼1kHz頻率下，測量坡莫合金環形試樣，技術指標如下：
| 被測參數 |
Ps(%) |
μa(%) |
δ(%) |
Bm(%) |
Hm(%) |
| 不確定度(k=2) |
3 |
2 |
- |
1 |
1 |
| 重複性(恒溫) |
± 1.5 |
± 1 |
± 1 |
± 0.5 |
± 0.5 |
| 備註 |
1.試樣應為薄壁環，外徑/內徑≤1.25。
2.測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。
3.不確定度為“-”，表示國標中不要求。 |
硬體技術參數
| MATS-2010M/k50 矽鋼測量裝置 |
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MATS-2010M/k75 矽鋼測量裝置 |
輸出功率：500VA正弦波
頻率範圍：45Hz∼1000Hz
頻率細度：1Hz
頻率誤差：< 0.05%
輸出電壓：0∼10V∼50V∼150V∼300V，
四檔自動量程
電壓細度：程式控制1mV，
面板 < 0.1%×當前量程
電壓失真度：優於0.5%
電壓穩定度：優於0.02%
電流採樣：5mA∼20A，十二檔自動量程
電壓採樣：100mV∼400V，十二檔自動量程 |
輸出功率：750VA正弦波
頻率範圍：45Hz∼1000Hz
頻率細度：1Hz
頻率誤差：< 0.05%
輸出電壓：0∼10V∼50V∼80V∼100V，
四檔自動量程
電壓細度：程式控制1mV，
面板 < 0.1%×當前量程
電壓失真度：優於0.5%
電壓穩定度：優於0.02%
電流採樣：5mA∼20A，十二檔自動量程
電壓採樣：100mV∼400V，十二檔自動量程 |
| MATS-2010M/10k 矽鋼測量裝置 |
PC6621 A/D卡 |
輸出功率：500VA正弦波
頻率範圍：400Hz∼10kHz
頻率細度：1Hz
頻率誤差：< 0.05%
輸出電壓：0∼10V∼50V∼150V∼300V，
四檔自動量程
電壓細度：程式控制1mV，
面板 < 0.1%×當前量程
電壓失真度：優於0.5%
電壓穩定度：優於0.02%
電流採樣：6.33mA∼20A，八檔自動量程
電壓採樣：1V∼316V，六檔自動量程 |
轉換時間：≤ 2.5μs（每通道）
解析度和線性度：12Bit±1LSB
電壓量程：±5V（滿量程）
採樣時標：5μs∼10ms硬體時標
記憶體容量：4kByte |
| PC6111 A/D卡 |
轉換時間：≤ 2.5μs（每通道）
解析度和線性度：12Bit±1LSB
電壓量程：±5V∼±10V（滿量程）
採樣時標：6μs∼10ms硬體時標
記憶體容量：4kByte |
| PC6684 A/D卡 |
PC6112 A/D卡 |
採樣速率：40MHz×2通道
解析度和線性度：12Bit±1/2LSB
電壓量程：±1V（滿量程）
採樣時標：25ns∼800ns硬體時標
記憶體容量：512kByte×2 |
轉換時間：≤ 2.5μs（每通道）
解析度和線性度：16Bit±1LSB
電壓量程：±5V∼±10V（滿量程）
採樣時標：6μs∼10ms硬體時標
記憶體容量：4kByte | |
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